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XRF, analisi fluorescenza a raggi X del SiC, carburo di silicio

 

Composizione

Tenore di SiC fino al 99%

 

Materie prime
Fabbricazione sintetica a partire da SiO2 e C a 2300 °C

 

Utilizzare
Per la fornitura di forni e impianti nel settore della metallurgia ferrosa e non ferrosa, rifiuti impianti di incenerimento, come combustibile ausiliario per la ceramica tecnica.

 

Norme e linee guida per l'analisi a fluorescenza a raggi X di SiC, carburo di silicio e SiC contenenti materiali

  • DIN EN ISO 12677:2013-02 – Analisi chimica dei prodotti refrattari mediante analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Processo di fusione
  • DIN EN ISO 21068-1:2008-12 – Analisi chimica dei prodotti refrattari Materie prime e prodotti refrattari contenenti carburo di silicio - Parte 1: Specifiche generali e preparazione del campione
  • DIN EN ISO 21068-2:2008-12 – Analisi chimica delle materie prime e dei prodotti refrattari contenenti carburo di silicio - Parte 2: Determinazione della perdita di bagliore e del contenuto totale carbonio, carbonio libero e carburo di silicio, contenuto totale e libero di ossido di silicio
  • DIN EN ISO 26845:2008-06 – Prodotti refrattari per analisi chimiche - Requisiti generali per l'analisi chimica a umido, metodi di spettrometria di assorbimento atomico (AAS), spettrometria di emissione atomica eccitata da un accoppiamento induttivo plasma (ICP-AES)
  • DIN 51001:2003-08 – Prove di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per l'analisi a fluorescenza a raggi X (XRF)
  • DIN 51001 Supplemento 1:2010-05 – Test di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per l'analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) ) - Panoramica Processo di digestione correlato al gruppo di sostanze per la produzione di campioni per la XRF
  • DIN 51081:2002-12 – Test di materie prime e materiali ossidici - Determinazione della variazione di massa nella ricottura
  • DIN 51418- 1:2008 -08 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione a raggi X e fluorescenza a raggi X analisi (XRF) - Parte 1: Termini generali e Fondamenti
  • DIN 51418- 2:2015 -03 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione a raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 2: Termini e nozioni di base per la misurazione, la calibrazione e la valutazione
             
 

Tipi di esame per l'analisi di SiC, carburo di silicio e materiali contenenti SiC

 

 
     

Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una digestione di fusione

Programma standard sugli ossidi a 12 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro

  • intervallo di taratura (intervallo) e
  • il limite pratico di rivelazione (NWG)
 

 

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Bk

Cf

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Md

No

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

Programma standard sugli ossidi a 20 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro

  • intervallo di taratura (intervallo) e
  • il limite di rivelazione pratica (NWG)
 

 

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Cf

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

Programma standard su 30 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro

  • gamma di taratura (intervallo) e
  • il limite di rilevamento pratico (NWG)
 

 

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Cf

Es

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni
specificate nel prezzo di listino
► XRF.

Programma standard su 40 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro

  • gamma di taratura (intervallo) e
  • il limite di rilevamento pratico (NWG)
 

 

H

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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Np

Pu

Am

Cm

Bk

Cf

Es

Fm

Md

No

Lr

 

 

Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
► XRF.

 

 

XRF quantitativo da una compressa orodispersibile su 12, 16, 20, 30 o 40 elementi secondo DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19

Per l'analisi di campioni ossidici e ossidabili di varie composizioni come vetro e fibre di vetro, suoli, roccie, materie prime minerali, ceramica e molto altro.
In questo processo, il materiale campione viene posto con un flusso (tetraborato di litio), fuso in atmosfera ossidante, spento come una tavoletta di vetro omogenea e analizzato come tale con alta precisione.

Analisi di screening su 71 elementi

Analisi di screening su 71 ossidi/elementi. Sensibilità 250 µg/g

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

 

Il Fundamental Parameter Program Omnian è utilizzato per XRF indipendente dalla matrice, quantitativa, semi-quantitativa o qualitativa di campioni sconosciuti di diverse proprietà del materiale e composizioni (inorganiche e organiche). Il materiale campione può essere preparato in forma preparata o con una composizione adeguata (radiografia e sottovuoto!) e la texture superficiale possono essere analizzate non preparate e non distruttive, per cui si possono determinare le concentrazioni di elementi tra il limite di rilevazione, solitamente 250 µg/g e 100%.

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  • Tel.: +49 (0)5505 // 940 98-0
  • Fax: +49 (0)5505 // 940 98-260

Notizia

23/dic/2021

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