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XRF, analisi a fluorescenza a raggi X di ceneri volanti, intonaci REA, raffreddori di fonderia, suoli contaminati e altri residui e materiali di scarto

 

I nostri servizi

 

  • Determinazione dei principali e oligoelementi nei materiali residui e di scarto quali ceneri volanti, intonaci REA, raffreddori di fonderia, terreni contaminati in conforme a ISO 29581, DIN EN ISO 12677, DIN EN 15309, DIN EN 196-2, DIN 51001, DIN 51719, DIN 51729
  • Analisi di screening fino a 71 elementi

Norme e linee guida per l'analisi a fluorescenza a raggi X di residui e materiali di scarto

  • ISO 29581-2:2010-03 – Cemento - Metodi di prova - Parte 2: Analisi chimica con metodo di prova a fluorescenza a raggi X
  • DIN EN ISO 12677:2013-02 – Analisi chimica dei prodotti refrattari mediante raggi X Analisi fluorescenza (XRF) - Processo di fusione
  • DIN EN 196- 2:2013-10 – Metodo di prova per cemento - Parte 2: Analisi chimica del cemento
  • DIN EN 15309:2007-08 – Caratterizzazione dei rifiuti e del suolo - Determinazione della composizione elementare mediante analisi a fluorescenza a raggi X
  • DIN EN 62321-3-1:2014-10 – Metodo per la determinazione di alcune sostanze nei prodotti di ingegneria elettrica - Parte 3-1: Screening - piombo, mercurio, cadmio, cromo totale e bromo totale mediante spettrometria a fluorescenza a raggi X (IEC 62321-3- 1:2013)
  • DIN 51001:2003-08 – Test di materie prime ossidate - Fondamenti generali di Analisi della fluorescenza a raggi X (XRF)
  • DIN 51001 Supplemento 1:2010-05 – Test di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per l'analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Panoramica dei metodi di digestione basati su gruppi di materiali per la produzione di campioni per la XRF
  • DIN 51081:2002-12 – Prove di materie prime e materiali ossidici - Determinazione della variazione di massa per la ricottura
  • DIN 51418-1:2008-08 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione a raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 1: Termini e principi generali
  • DIN 51418-2:2015-03 – Analisi spettrale a raggi X - Radiografia Analisi delle emissioni e della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 2: Termini e nozioni di base per la misurazione, la taratura e la valutazione
  • DIN 51719:1997-07 – Prova dei combustibili solidi - Determinazione del contenuto di ceneri
  • DIN 51729- 10:2011-04 – Prova dei combustibili solidi - Determinazione della composizione chimica delle ceneri combustibili - Parte 10 : Analisi della fluorescenza a raggi X (XRF)

Tipi di studio per l'analisi dei residui e dei materiali di scarto

 

Vantaggi di XRF, analisi a fluorescenza a raggi X

 

  • metodi di test accreditati secondo standard nazionali ed internazionali
  • Analisi economicamente vantaggiose
  • Tempi di lavorazione brevi in laboratorio
  • Alta precisione delle analisi, limiti di rivelazione bassi
  • fino a 71 elementi in un unico passaggio di misura

Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una digestione di fusione

Programma standard sugli ossidi a 12 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro

  • intervallo di taratura (intervallo) e
  • il limite pratico di rivelazione (NWG)
 

 

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

Programma standard sugli ossidi a 20 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro

  • intervallo di taratura (intervallo) e
  • il limite di rivelazione pratica (NWG)
 

 

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

Programma standard su 30 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro

  • gamma di taratura (intervallo) e
  • il limite di rilevamento pratico (NWG)
 

 

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni
specificate nel prezzo di listino
► XRF.

Programma standard su 40 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro

  • gamma di taratura (intervallo) e
  • il limite di rilevamento pratico (NWG)
 

 

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
► XRF.

 

 

XRF quantitativo da una compressa orodispersibile su 12, 16, 20, 30 o 40 elementi secondo DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19

Per l'analisi di campioni ossidici e ossidabili di varie composizioni come vetro e fibre di vetro, suoli, roccie, materie prime minerali, ceramica e molto altro.
In questo processo, il materiale campione viene posto con un flusso (tetraborato di litio), fuso in atmosfera ossidante, spento come una tavoletta di vetro omogenea e analizzato come tale con alta precisione.

 Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una pressa a polvere

Programma standard su 27 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro

  • gamma di taratura (intervallo) e
  • il limite di rilevamento pratico (NWG)
 

 

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

Programma standard su 40 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro

  • gamma di calibrazione (intervallo) e
  • il limite pratico di rilevamento (NWG)
 

 

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

Programma standard su 50 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro

  • gamma di calibrazione (intervallo) e
  • il limite pratico di rilevamento (NWG)
 

 

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

Specialmente per campioni di rilevanza ambientale quali suoli contaminati o incontaminati, fanghi di depurazione, residui di incenerimento dei rifiuti, ma anche gesso REA, ceneri volanti e altri materiali. A causa della natura della preparazione, gli effetti di consistenza e granulometria possono portare a una errata determinazione degli elementi principali minori con numeri ordinali fino a 15. Per la valutazione delle materie prime, almeno gli elementi da Na a Si vanno analizzati in aggiunta a una digestione del fuso.

Il programma a 27 elementi è particolarmente adatto per le questioni che richiedono elementi secondo Laga, l'elenco di Kloke, l'ordinanza sui fanghi di depurazione dei rifiuti o le direttive CE. Tuttavia, molti altri elementi sono noti dalla tossicologia ambientale, che non sono inclusi negli elenchi dei valori limite, indicativi e orientativi. In caso di sospetto di tale contaminazione o nella creazione di catasti fondiari, si raccomanda l'uso di programmi di misurazione più estesi con 40 o 50 elementi.

Per queste domande viene effettuato un trattamento delicato del materiale: il campione viene essiccato a 40 °C nella camera di essiccazione ad aria in circolazione, in modo che non si verifichino perdite di evaporazione, ad esempio da composti volatili metallici o metallo-organici di mercurio e – se non già fatto prima della consegna – in un Macinare il mulino di agata.

Analisi di screening su 71 elementi

Analisi di screening su 71 ossidi/elementi. Sensibilità 250 µg/g

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

 

Il Fundamental Parameter Program Omnian è utilizzato per XRF indipendente dalla matrice, quantitativa, semi-quantitativa o qualitativa di campioni sconosciuti di diverse proprietà del materiale e composizioni (inorganiche e organiche). Il materiale campione può essere preparato in forma preparata o con una composizione adeguata (radiografia e sottovuoto!) e la texture superficiale possono essere analizzate non preparate e non distruttive, per cui si possono determinare le concentrazioni di elementi tra il limite di rilevazione, solitamente 250 µg/g e 100%.

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21/apr/2022

Congratulazioni alla nostra agenzia partner per il premio di Google

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23/dic/2021

Relazione di follow-up: 30° Forum sull'amianto e altri inquinanti nelle strutture tecniche

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