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XRF, analisi a fluorescenza a raggi X di chamotte

 

Composizione

Prodotti refrattari costituiti dai principali costituenti Al2O3eSiO2.

 

Materie prime
argilla, caolino (o loro prodotti sinterizzati), alumosilicati come andalusite, sillimanite, mullite e bauxite sinterizzata e corindone.

Aree di applicazione

Campi di  applicazione dei mattoni refrattari: costruzione a combustione, altiforni, fonderie di acciaierie, forni a coke e a gas, industria del vetro e del cemento.

 

 

 

Norme e linee guida per l'analisi a fluorescenza a raggi X della chamotte

  • DIN EN ISO 12677:2013-02 – Analisi chimica dei prodotti refrattari mediante analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Processo di fusione
  • DIN EN ISO 26845:2008-06 – Analisi chimica di prodotti refrattari - Requisiti generali per analisi chimica a umido, metodo di spettrometria ad assorbimento atomico (AAS), spettrometria ad emissione atomica con eccitazione mediante plasma accoppiato induttivamente (ICP-AES)
  • DIN 51001:2003-08 – Test di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per l'analisi della fluorescenza a raggi X (XRF)
  • DIN 51001 Supplemento 1:2010-05 – Prove di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per l'analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Panoramica dei metodi di digestione basati su gruppi di materiali per la produzione di campioni per la XRF
  • DIN 51081:2002-12 – Test di materie prime e materiali ossidici - Determinazione della variazione di massa nella ricottura
  • DIN 51418- 1:2008-08 – Analisi spettrale dei raggi X - Emissione dei raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 1: Termini e principi generali
  • DIN 51418- 2:2015-03 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione dei raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 2: Termini e principi per la misurazione, la taratura e la valutazione
             
 

Tipi di esame per l'analisi della chamotte

 

 
     

    Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una digestione di fusione

Programma standard sugli ossidi a 12 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro

  • intervallo di taratura (intervallo) e
  • il limite pratico di rivelazione (NWG)
 

 

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Pu

Am

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Bk

Cf

Es

Fm

Md

No

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

Determinazione della rettificazione, dell'essiccazione e della perdita di bagliore vengono effettuate, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel
di listino XRF.

Programma standard su ossidi a 16 elementi per materiali contenenti ZR da 4% ZrO2

Quando si attraversano gli elementi marchiati in verde, la loro

  • gamma di taratura (gamma) e
  • il limite pratico di rilevamento (NWG)
 

 

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Cf

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No

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

 

Programma standard sugli ossidi a 20 elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali ad alto contenuto di ZR

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, il loro

  • intervallo di taratura (intervallo) e
  • il limite di rivelazione pratica (NWG)
 

 

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

 

Programma standard su 30 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro

  • gamma di taratura (intervallo) e 
  • il limite di rilevamento pratico (NWG)
 

 

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Cm

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Cf

Es

Fm

Md

No

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

 

Programma standard su 40 ossidi/elementi, applicabile a tutti i gruppi di sostanze ad eccezione dei materiali contenenti alto Zr, Cr, Mn.

Quando si attraversano gli elementi contrassegnati in verde, la loro

  • gamma di taratura (intervallo) e 
  • il limite di rilevamento pratico (NWG)
 

 

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Ag

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Sb

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
► XRF.

 

 

 

XRF quantitativo da una compressa orodispersibile su 12, 16, 20, 30 o 40 elementi secondo DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19

Per l'analisi di campioni ossidici e ossidabili di varie composizioni come vetro e fibre di vetro, suoli, roccie, materie prime minerali, ceramica e molto altro. In questo processo, il materiale campione viene posto con un flusso (tetraborato di litio), fuso in atmosfera ossidante, spento come una tavoletta di vetro omogenea e analizzato come tale con alta precisione.

Analisi di screening su 71 elementi

Analisi di screening su 71 ossidi/elementi. Sensibilità 250 µg/g

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Avvertenza:

 

Per effettuare un'analisi standardizzata, abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105 °C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI).

La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino
XRF.

 

Il Fundamental Parameter Program Omnian è utilizzato per XRF indipendente dalla matrice, quantitativa, semi-quantitativa o qualitativa di campioni sconosciuti di diverse proprietà del materiale e composizioni (inorganiche e organiche). Il materiale campione può essere preparato in forma preparata o con una composizione adeguata (radiografia e sottovuoto!) e la texture superficiale possono essere analizzate non preparate e non distruttive, per cui si possono determinare le concentrazioni di elementi tra il limite di rilevazione, solitamente 250 µg/g e 100%.

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Notizia

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