XRF, X-ray fluorescentie analyse van spinel, spinel steen, magnesium aspinal
Samenstelling
MgO xAl2O3, installatie van andere oxiden 2- en 3-metaalsoorten zoals FeO, MnO, ZnO, Fe2O3, Cr2O3
Grondstoffen
Chromietafzettingen in ultrabasische rotsen. Productie van spinel uit klei en magnesiumoxide door smelten in de elektrische boogoven = het smelten van spinel, of in roterende of asovens = gesinterde spinel.
Hoe te gebruiken
hoogovens, cement ovens, glasovens, non-ferro metaal smelten
Normen en richtlijnen voor röntgenfluorescentieanalyse van spinel, spinelsteen, magnesium aspinal
- DIN EN ISO 12677:2013-02 - Chemische analyse van vuurvaste producten door röntgenfluorescentieanalyse (XRF) - Smeltproces
- DIN EN ISO 26845:2008-06 - Chemische analyse van vuurvaste producten - Algemene eisen voor natte chemische analyse, atomaire absorptiespectrometrie (AAS) methoden, atomaire emissiespectrometrie geëxciteerd door een inductief gekoppeld plasma (ICP-AES)
- DIN 51001:2003-08 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Algemene werkingsprincipes voor röntgenfluorescentieanalyse (XRF)
- DIN 51001 Supplement 1:2010-05 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Algemene werkingsprincipes voor X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Overzicht van stofgroepen gebaseerde verteringsmethoden voor de productie van monsters voor de XRF
- DIN 51081:2002-12 - Testen van oxidische grondstoffen en materialen - Bepaling van massaveranderingen tijdens het gloeien
- DIN 51418-1:2008-08 - X-ray spectrale analyse - X-ray emissie en X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Deel 1: Algemene voorwaarden en basisbeginselen
- DIN 51418-2:2015-03 - X-ray spectrale analyse - X-ray emissie en X-ray fluorescentie analyse (XRF) - Deel 2: Termen en basisprincipes voor meting, kalibratie en evaluatie
Soorten onderzoek voor de analyse van spinel, spinelsteen en magnesium aspinal
|
||
Kwantitatieve röntgenfluorescentieanalyse van een smeltvertering
Standaardprogramma voor 12 elementen oxiden, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van materialen met een hoog ZR-gehalte.
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Voor het uitvoeren van een gestandaardiseerde analyse hebben we analytisch fijn (<63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
►Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Standaardprogramma voor 20 elementen oxiden, van toepassing op alle groepen stoffen met uitzondering van materialen met een hoog ZR-gehalte.
Bij het oversteken van de elementen gemarkeerd in groen, hun
- kalibratiebereik (bereik) en
- de praktische detectiegrens (NWG)
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Voor het uitvoeren van een gestandaardiseerde analyse hebben we analytisch fijn (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
►Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Kwantitatieve XRF van één orodispergeerbare tablet op 12, 16, 20, 30 of 40 elementen volgens DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19.
Voor de analyse van geoxideerde en geoxideerde monsters van verschillende samenstellingen zoals glas- en glasvezels, bodems, rotsen, minerale grondstoffen, keramische of mineraal gebonden bouwmaterialen, enz.
Bij dit proces wordt het monstermateriaal met een flux (lithiumtetraboraat) geplaatst, gesmolten in een oxiderende atmosfeer, geblust als een homogene glastablet en als zodanig met grote precisie geanalyseerd.
Screening analyse op 71 elementen
Screening analyse op 71 oxideën/elementen. Gevoeligheid 250 µg/g
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Let op:
Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analysefijne (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).
De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de
►Prijslijst XRF
algemene voorwaarden.
Het Fundamentele Parameter Program Omnian wordt gebruikt voor matrix-onafhankelijke, kwantitatieve, semi-kwantitatieve of kwalitatieve XRF van onbekende monsters van verschillende materiaaleigenschappen en samenstellingen (anorganisch en organisch). Het monstermateriaal kan in voorbereide vorm of met een geschikte samenstelling worden bereid (röntgen- en vacuümbestendig!) en oppervlaktetextuur kunnen onvoorbereid en niet-destructief worden geanalyseerd, waarbij elementconcentraties tussen de detectielimiet, gewoonlijk 250 µg/g en 100% kunnen worden bepaald.
