XRF, análisis de fluorescencia de rayos X de espinela, piedra de espinela, magnesio aspinal
Composición
MgO x Al2O3, instalación de otros óxidos de metales de grado 2 y 3 como FeO, MnO, ZnO, Fe2O3, Cr2O3
Materias primas
Depósitos de cromita en rocas ultrabásicas. Producción de espinela a partir de alúmina y magnesia por fusión en horno de arco eléctrico = espinela de fusión, o en hornos rotativos o de eje = espinela de sinterización.
Uso
Altos hornos, hornos de cemento, hornos de vidrio, fundición de metales no ferrosos.
Normas y directrices para el análisis de fluorescencia de rayos X de espinela, piedra de espinela, espinela de magnesio
- DIN EN ISO 12677:2013-02 – Análisis químico de productos refractarios mediante análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Proceso de fusión
- DIN EN ISO 26845:2008-06 – Análisis químico de refractarios productos - Requisitos generales para el análisis químico húmedo, métodos de espectrometría de absorción atómica (AAS), espectrometría de emisión atómica con excitación por plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
- DIN 51001:2003-08 – Ensayos de materias primas y materias primas oxidadas - Principios generales de trabajo para rayos X Análisis de fluorescencia (XRF)
- DIN 51001 Suplemento 1:2010-05 – Pruebas de materias primas y materias primas oxidadas - Principios generales de trabajo para el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Descripción general de los métodos de digestión relacionados con grupos de materiales para la producción de muestras para la XRF
- DIN 51081:2002-12 – Ensayos de materias primas y materias primas oxidadas - Determinación del cambio de masa en el recocido
- DIN 51418-1:2008 -08 – Análisis espectral de rayos X - Análisis de emisiones de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Términos y principios generales
- DIN 51418- 2:2015-03 – Análisis espectral de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Términos y conceptos básicos para la medición, calibración y evaluación
Untersuchungsarten für die Analyse von Spinell, Spinellstein, Magnesiaspinell
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Análisis cuantitativo de fluorescencia de rayos X a partir de una digestión de fusión
Programa estándar sobre óxidos de 12 elementos, aplicable a todos los grupos de sustancias excepto materiales con alto contenido de ZR
Al cruzar los elementos marcados en verde, su
- rango de calibración (rango) y
- el límite práctico de detección (NWG)
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis estandarizado , necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La molienda, el secado y la determinación de la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios
►XRF.
Programa estándar sobre 20 óxidos de elementos, aplicable a todos los grupos de sustancias excepto materiales con alto contenido de ZR
Al cruzar los elementos marcados en verde, su
- rango de calibración (rango) y
- el límite de detección práctica (NWG)
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis estandarizado , necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La molienda, el secado y la determinación de la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios
► XRF.
XRF cuantitativa de un comprimido bucodispersable en 12, 16, 20, 30 o 40 elementos según DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19
Para el análisis de muestras oxidadas y oxidables de diversas composiciones, tales como vidrio y fibras de vidrio, suelos, rocas, materias primas minerales, cerámica o.
En este proceso, el material de muestra se coloca con un flujo (tetraborato de litio), se funde en una atmósfera oxidante, se apaga como una tableta de vidrio homogénea y se analiza como tal con gran precisión.
Análisis de cribado sobre 71 elementos
Análisis de cribado en 71 óxidos/elementos. Sensibilidad 250 µg/g
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Por favor, tenga en cuenta:
Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).
La molienda, el secado y la determinación de la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios
►XRF.
El Programa de Parámetro Fundamental Omnian se utiliza para XRF cuantitativa, semicuantitativa o cualitativa de muestras desconocidas de diferentes propiedades materiales y composiciones (inorgánicas y orgánicas). El material de muestra se puede preparar en forma preparada o con la composición adecuada (rayos X y estable al vacío!) y la textura superficial pueden analizarse sin preparación y no destructiva, por lo que pueden determinarse las concentraciones de los elementos entre el límite de detección, normalmente 250 µg/g y el 100%.
