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XRF, análisis de fluorescencia de rayos X de circón, baddeleyita, piedras que contienen circonitas

 

Composición

Silicato de circonio, Circón: ZrO+ HfOaprox. 63–67%, resto SiO2

Baddeleyita: ZrO+ HfO2

Circonio que contiene piedras hasta 35% ZrO2

 

Materias primas
Para la producción de silicato de circonio puro materiales y sílice de alumina-zirconia sinterizada, materiales AZS Hecho de circón, mullita, baddeleyita y corindón.

 

Uso
Como piedra resistente a la corrosión en la industria del vidrio, la industria del acero.

Normas y directrices para el análisis de fluorescencia de rayos X de circonio, baddeleyita, circonio que contienen piedras

  • DIN EN ISO 12677:2013-02 – Análisis químico de productos refractarios mediante análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Proceso de fusión
  • DIN EN ISO 26845:2008-06 – Análisis químico Productos refractarios - Requisitos generales para el análisis químico húmedo, métodos de espectrometría de absorción atómica (AAS), espectrometría de emisión atómica con excitación por plasma acoplado inductivamente (ICP-AES)
  • DIN 51001:2003-08 – Ensayos de materias primas oxidadas - Principios generales de trabajo para X Análisis de fluorescencia de rayos X (XRF)
  • DIN 51001 Suplemento 1:2010-05 – Ensayos de materias primas y materiales oxidados - Principios generales de trabajo para el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Descripción general de los métodos de digestión relacionados con grupos de materiales para la producción de muestras para la XRF
  • DIN 51081:2002-12 – Pruebas de materias primas y materiales oxidados - Determinación del cambio de masa en Glow
  • DIN 51418- 1:2008-08 – Análisis espectral de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Términos y principios generales
  • DIN 51418- 2:2015-03 – Análisis espectral de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Términos y conceptos básicos para la medición, calibración y evaluación
             
 

Tipos de examen para el análisis de circonio, baddeleyita, piedras que contienen circonio

 

  • Varios programas de medición completos para el análisis de fluorescencia de rayos X de circonio a partir de una digestión de fusión
  • Análisis de cribado de hasta 71 elementos de un polvo compacto
  • Investigaciones complementarias
 
     

Análisis cuantitativo de fluorescencia de rayos X a partir de una digestión de fusión

Programa estándar sobre 16 óxidos de elementos para materiales que contienen ZR a partir del 4% ZrO2

Al cruzar los elementos marcados en verde, su

  • rango de calibración (rango) y
  • el límite práctico de detección (NWG)

 

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Por favor, tenga en cuenta:

 

Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).

 

 

 

La determinación de la molienda, el secado y la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones
especificadas en la 
► lista de precios XRF.

 

XRF cuantitativa de un comprimido bucodispersable en 12, 16, 20, 30 o 40 elementos según DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19

Para el análisis de muestras oxidadas y oxidables de diversas composiciones, tales como vidrio y fibras de vidrio, suelos, rocas, materias primas minerales, cerámica o.
En este proceso, el material de muestra se coloca con un flujo (tetraborato de litio), se funde en una atmósfera oxidante, se apaga como una tableta de vidrio homogénea y se analiza como tal con gran precisión.

Análisis de cribado sobre 71 elementos

Análisis de cribado en 71 óxidos/elementos. Sensibilidad 250 µg/g

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Por favor, tenga en cuenta:

 

Para realizar un análisis estandarizado, necesitamos material de muestra analítico fino (< 63 µm) y seco (105 °C), así como el valor de la pérdida de brillo (LOI).

La molienda, el secado y la determinación de la pérdida de brillo se llevan a cabo, si es necesario o no especificado, en las condiciones especificadas en la lista de precios
XRF.

 

El Programa de Parámetro Fundamental Omnian se utiliza para XRF cuantitativa, semicuantitativa o cualitativa de muestras desconocidas de diferentes propiedades materiales y composiciones (inorgánicas y orgánicas). El material de muestra se puede preparar en forma preparada o con la composición adecuada (rayos X y estable al vacío!) y la textura superficial pueden analizarse sin preparación y no destructiva, por lo que pueden determinarse las concentraciones de los elementos entre el límite de detección, normalmente 250 µg/g y el 100%.

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  • Tel.: +49 (0) 5505 // 940 98-0
  • Fax: +49 (0) 5505 // 940 98-260

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